Расчет основных формул по основам электроники
СОДЕРЖАНИЕ: КУРСОВАЯ РАБОТА Расчет основных формул по основам электроники по дисциплине « ФИЗИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ ЭЛЕКТРОНИКИ» Вариант 28 Чита 2009 Исходные данные 0,78КУРСОВАЯ РАБОТА
Расчет основных формул по основам электроники
по дисциплине
« ФИЗИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ ЭЛЕКТРОНИКИ»
Вариант 28
Чита
2009
Исходные данные
0,78 | 0,04 | 0,035 | 0, 2 | 0, 6 | 15 | 1500 | 700 | 2 50 |
Физические и математические постоянные:
1. Постоянная Планка
2. Элементарный заряд
3. Масса покоя электрона
4. Постоянная Больцмана
5. Число пи
6. Число е
7. Электрическая постоянная
1. Рассчитать температурную зависимость концентрации равновесных носителей заряда в собственном полупроводнике
Исходные формулы:
а) Получение расчетной формулы
Пример:
б) Результаты расчетов представил в таблице 1.
Таблица 1.
Концентрация равновесных носителей заряда в собственном полупроводнике.
T | T^3/2 | 1/T | KT | n0 | lnn0 |
75 | 649,5190528 | 0,013333333 | 0,006463 | 0,003973436 | -5,528124115 |
100 | 1000 | 0,01 | 0,008617 | 21789,62053 | 9,989189013 |
120 | 1314,534138 | 0,008333333 | 0,010341 | 54057905,69 | 17,80556636 |
150 | 1837,117307 | 0,006666667 | 0,012926 | 1,42581E+11 | 25,68317669 |
200 | 2828,427125 | 0,005 | 0,017235 | 4,14293E+14 | 33,65759481 |
300 | 5196,152423 | 0,003333333 | 0,025852 | 1,43642E+18 | 41,80868748 |
400 | 8000 | 0,0025 | 0,03447 | 9,60747E+19 | 46,0116581 |
500 | 11180,33989 | 0,002 | 0,043087 | 1,2904E+21 | 48,60924193 |
в) Построил график 1 зависимости равновесной конфигурации носителей тока от температуры в координатах .
График 1
г) Проверить правильность построения графика, выполнив обратную задачу: используя значение tg , найти ширину запрещенной зоны полупроводника Е, сравнить с исходным значением Е. Найти погрешность (Е).
2. Рассчитать температурную зависимость уровня Ферми в собственном полупроводнике
Расчетная формула:
а) результаты расчетов представил в таблице 2
Зависимость Ef ( T ) в собственном полупроводнике
Таблица 2
T,K | KT,эВ | Ef,эВ | Ef/Ef0*100% |
100 | 0,008617375 | 0,397100366 | 101,8206066 |
200 | 0,01723475 | 0,404200731 | 103,6412132 |
300 | 0,025852126 | 0,411301097 | 105,4618198 |
400 | 0,034469501 | 0,418401463 | 107,2824264 |
500 | 0,043086876 | 0,425501829 | 109,103033 |
б) Построил график 2 «Зависимость Ef ( T ) в собственном полупроводнике
График 2
3. Рассчитать температуры ионизации донорной примеси Т s и ионизации основного вещества Т i в полупроводнике n тока методом последовательных приближений. В качестве начальных температур использовать значения Ti =400 К , Ts =50 К
Расчетные формулы:
Таблица 3.
N приближ. | 1 | 2 | 3 | 4 | 5 | 6 |
Ti, K | 400 | 986,0672473 | 761,51462 | 814,6480626 | 800,077865 | 803,9251818 |
Nc*10E+25, | 0,345561057 | 1,337502517 | 0,907720567 | 1,004361024 | 0,977536968 | 0,984596428 |
Nv*10E+25 | 1,795587925 | 6,949866942 | 4,716654422 | 5,218812967 | 5,079431084 | 5,116113117 |
10 | 11 |
803,1185939 | 803,1134442 |
0,983115014 | |
5,108415461 |
Таблица 4.
N приближ | 1 | 2 | 3 | 4 | 5 | 6 | 7 | 8 | 9 |
Ts,K | 50,000 | 346,476 | 109,388 | 184,635 | 140,692 | 160,530 | 150,249 | 155,238 | 152,735 |
Nc*10E+23 | 1,527 | 27,858 | 4,942 | 10,837 | 7,208 | 8,786 | 7,955 | 8,355 | 8,153 |
10 | 11 | 12 | 13 |
153,970 | 153,355 | 153,660 | 153,509 |
8,253 | 8,203 | 8,228 |
4. Рассчитать температуру ионизации Т s и Т i в акцепторном полупроводнике методом последовательных приближений
Расчетные формулы:
Таблица 5.
N приближ. | 1 | 2 | 3 | 4 | 5 | 6 | 7 | 8 | 9 |
Ti, K | 400 | 856,68 | 704,36 | 738,10 | 729,75 | 731,76 | 731,27 | 731,39 | 731,36 |
Nc*10E+25, | 0,3455 | 1,083100 | 0,8074 | 0,8661 | 0,8515 | 0,8550 | 0,8541 | 0,8544 | |
Nv*10E+25 | 1,7955 | 5,627955 | 4,1958 | 4,5008 | 4,4246 | 4,4429 | 4,4385 | 4,4396 |
Таблица 6.
N приближ | 1 | 2 | 3 | 4 | 5 | 6 | 7 | 8 | 9 |
Ts,K | 50 | 110,34 | 83,43 | 91,29 | 88,60 | 89,48 | 89,19 | 89,28 | 89,25 |
Nv*10E+23 | 7,9354 | 26,0163 | 17,104 | 19,579 | 18,719 | 18,998 | 18,9 | 18,93 |
5. Рассчитать температурную зависимость положения уровня Ферми Ef ( T ) в донорном полупроводнике
а) для низкотемпературной области использовать формулу:
Таблица 7.
T,K | 5 | 10 | 50 | 60 | 80 | 153,5 |
KT,эВ | 0,000430869 | 0,000861738 | 0,004308688 | 0,005170425 | 0,0068939 | 0,013227671 |
Nc,м-3 | 4,82936E+21 | 1,36595E+22 | 1,52718E+23 | 2,00753E+23 | 3,09079E+23 | 8,21481E+23 |
Ef,эВ | -0,01954453 | -0,01953705 | -0,02288620 | -0,02417045 | -0,02704804 | -0,03998852 |
График 3 Зависимость Ef ( T ) для полупроводника n -типа в области низких температур.
б) для низкотемпературной области найти положение максимума зависимости Ef ( T ), т.е. вычислить и
в) для области средних температур использовать формулу:
Таблица 8.
T,K | 100 | 150 | 200 | 250 | 300 | 350 | 400 |
KT,эВ | 0,00861737 | 0,012926063 | 0,01723475 | 0,021543438 | 0,02585212 | 0,03016081 | 0,034469501 |
Nc,м-3 | 4,3195E+23 | 7,93545E+23 | 1,22174E+24 | 1,70744E+24 | 2,2444E+24 | 2,8283E+24 | 3,4556E+24 |
Ef,эВ | -0,01453136 | -0,02965864 | -0,04698205 | -0,06593848 | -0,0861962 | -0,10753629 | -0,12980275 |
450 | 500 | 550 | 600 | 650 | 700 | 750 | 803,1 |
0,038778188 | 0,043086876 | 0,047395564 | 0,0517042 | 0,056013 | 0,060322 | 0,06463 | 0,06920614 |
4,12338E+24 | 4,82936E+24 | 5,57159E+24 | 6,348E+24 | 7,16E+24 | 8E+24 | 8,87E+24 | 9,83081E+24 |
-0,15287922 | -0,17667528 | -0,20111873 | -0,2261505 | -0,25172 | -0,27779 | -0,30432 | -0,332968031 |
г) в области высоких температур использовать формулу:
Таблица 9.
T,К | 400 | 450 | 500 | 550 |
KT,эВ | 0,034469501 | 0,038778188 | 0,043086876 | 0,047395564 |
Ef,эВ | -0,361598537 | -0,358048354 | -0,354498171 | -0,350947989 |
д) построить график 4 «Температурная зависимость Ef для донорной примеси по полученным точкам ».
График 4.
6. Рассчитать критическую концентрацию вырождения донорной примеси
. В и
7.Рассчитать равновесную концентрацию основных и неосновных носителей тока в p - n и n – областях p - n перехода при температуре Т=300К. Полагая , что примесь полностью ионизирована, считать и равным концентрации соответствующей примеси
Концентрация неосновных носителей найти из закона действующих масс в и перевести в .
8. Найти высоту потенциального барьера равновесного p - n -перехода и контактную разность потенциалов
9. Найти положение уровней Ферми в p - n -перехода и n -областях относительно потолка зоны проводимости и дна валентной зоны соответственно .(Т=300К)
а)
б)
в) определить высоту потенциального барьера p - n -перехода (проверка правильности п.8)
10. Найти толщину p - n -перехода в равновесном состоянии (Т=300К)
11. Определить толщину пространственного заряда в p - n -областях
12. Построить в масштабе график 5 «Энергетическая диаграмма p - n -перехода в равновесном состоянии»
График 5.
13. Найти максимальную напряженность электрического поля в равновесном p - n -переходе. Построить график 6 «Зависимость напряженности электростатического поля от расстояния в p - n -переходе»
График 6.
14. Найти падение потенциала в p - n -областях пространственного заряда p - n -перехода
15. Построить график 6 «Зависимость потенциала в p - n -областях от расстояния»
Задать 5 значений Хр через равные интервалы и вычислить 5 значений .
Задать 5 значений Х n через равные интервалы и вычислить 5 значений .
Таблица 9.
1 | 2 | 3 | 4 | 5 | |
Xp*1E-7 | 0,245902211 | 0,491804423 | 0,737706634 | 0,983608846 | 1,229511057 |
p | 0,014588944 | 0,058355776 | 0,131300495 | 0,233423102 | 0,364723597 |
Xn*1E-7 | -0,122951106 | -0,245902211 | -0,368853317 | -0,491804423 | -0,614755529 |
n, в | -0,007294472 | -0,029177888 | -0,065650248 | -0,116711551 | -0,182361799 |
График 7.
16. Вычислить барьерную емкость p - n -перехода расчете на S =1 см для трех случаев
а) равновесное состояние p - n -перехода
б) при обратном смещении V =1 В
в) при прямом смещении V =0.8 Vk
Вывод: При обратном смещении барьерная емкость уменьшается . при прямом смещении барьерная емкость увеличивается.
17. Вычислить коэффициент диффузии для электронов и дырок ( в см/с) и диффузионную длину для электронов и дырок (в см) при Т=300 К
18. Вычислить электропроводность и удельное сопротивление собственного полупроводника, полупроводника n-и p-типа при Т=300 К
Выводы: а) проводимостью неосновных носителей в легированных полупроводника можно пренебречь по сравнению с прводимостью, обусловленной основными носителями.
б) легированный п/п обладает большей электропроводностью.
В 10 раз.
19. Определить величину плотности обратного тока p - n -перехода при Т=300 К вА/см
20. Построить обратную ветвь ВАХ p - n -перехода, Т=300 К
Результаты расчетов привести в таблице 10.
По данным таблицы 10 построить график 7 «Обратная ветвь ВАХ p - n -перехода».
Обратная ветвь ВАХ p - n -перехода, Т=300 К.
Обратная ветвь ВАХ p - n -перехода
Таблица 10.
N | 1 | 2 | 3 | 4 | 5 | 6 |
qV | 4,14195E-22 | 1,24259E-21 | 2,07098E-21 | 4,14195E-21 | 6,21293E-21 | 8,2839E-21 |
V | -0,002585213 | -0,007755638 | -0,012926063 | -0,025852126 | -0,038778188 | -0,051704251 |
j*10, А/см | -4,15542E-07 | -1,13176E-06 | -1,71814E-06 | -2,76025E-06 | -3,39232E-06 | -3,77569E-06 |
7 | 8 | 9 | 10 | 11 |
1,24259E-20 | 1,65678E-20 | 2,07098E-20 | 2,48517E-20 | 8,2839E-20 |
-0,077556377 | -0,103408502 | -0,129260628 | -0,155112753 | -0,51704251 |
-4,14925E-06 | -4,28667E-06 | -4,33723E-06 | -4,35583E-06 | -4,3667E-06 |
График 8.
21. Построить прямую ветвь ВАХ p - n -перехода, Т=300 К
Результаты расчетов привести в таблице 11.
Прямая ветвь ВАХ p - n -перехода, Т=300 К.
Таблица 11.
N | 1 | 2 | 3 | 4 | 5 | 6 | 7 |
qV | 4,14195E-21 | 8,2839E-21 | 1,24259E-20 | 1,65678E-20 | 1,86388E-20 | 2,07098E-20 | 8,2839E-20 |
V | 0,025852126 | 0,051704251 | 0,077556377 | 0,103408502 | 0,116334565 | 0,129260628 | 0,517042511 |
j , А/см | 7,50313E-09 | 2,78987E-08 | 8,33397E-08 | 2,34044E-07 | 3,88706E-07 | 6,437E-07 | 2,118519275 |
График 9.
22. Вычислить отношение j пр/ j обр при и при . Сформулировать вывод
Вывод:
Чем больше напряжение, тем выше коэффициент выпрямления