Радиоэлектроника

  • 121. Диффузионные процессы в тонких слоях пленок при изготовление БИС методом толстопленочной технологии ...
    Реферат
  • 122. Дорожное покрытие. Классификация дорожного покрытия
    Информация
  • 123. Дослідження логічних елементів емітерно-зв’язаної логіки
    Информация

    Порушення цієї умови приводить до насичення транзистора, тому що потенціал його колектора виявляється нижче потенціалу бази. Отже, збільшення розмаху логічного сигналу, який визначається перепадом напруги в колекторному колі вхідних транзисторів, припустимо тільки при відповідному збільшенні зсуву рівня Uбэ.сд. Цього можна досягти, наприклад, шляхом вмикання додаткового діода, що зміщає, у емітерні кола транзисторів Т4 і Т5 . Емітерні повторювачі (без зсувних діодів) забезпечують зсув рівня, що складає 0,8 - 0,9 В. Розмах логічного сигналу, дорівнює цьому значенню, виявляється достатнім для більшості цифрових автоматів, побудованих на елементах ЕЗЛ. При цьому, щоб одержати однаковий розмах логічного сигналу на що інвертуючому і неінвертуючому виходах елемента значення опорів резисторів RKl =RK2 вибираються рівними один одному: RKl =RK2 = RK.

  • 124. Дросселирование газов
    Информация
  • 125. Дросселирование пара
    Информация
  • 126. Дуговая печь
    Реферат
  • 127. Емкостные преобразователи
    Информация

    До недавнего времени конструкторы относились с предубеждением к емкостным датчикам, полагая, что схемы с емкостными датчиками не обеспечивают ни достаточной точности, ни стабильности работы приборов. Считалось обязательным для получения устойчивого сигнала на выходе емкостного датчика питать его напряжением высокой частоты, достигающей сотен килогерц, а иногда даже десятков мегагерц. Наличие такой высокой частоты в свою очередь приводило к потерям в паразитных емкостях, соединительных проводах и т. п. Для того чтобы повысить амплитуду сигнала, снимаемого с емкостного датчика, и улучшить стабильность показаний, некоторые авторы разработок применяли в первом каскаде усилителя электрометрические лампы, допускающие включение сотен мегом в цепь управляющей сетки и т. д., однако все эти меры мало улучшали стабильность систем с емкостными датчиками и в то же время значительно усложняли конструкцию приборов.

  • 128. Енергозбереження- вимога часу
    Информация
  • 129. Жидкие кристаллы
    Информация

    Время шло, факты о жидких кристаллах постепенно накапливались, но не было общего принципа, который позволил бы установить какую-то систему в представлениях о жидких кристаллах. Как говорят, настало время для классификации предмета исследований. Заслуга в создании основ современной классификации жидких кристаллов принадлежит французскому ученому Ж. Фриделю.В двадцатые годы Фридель предложил разделить все жидкие кристаллы на две большие группы. Одну группу жидких кристаллов Фридель назвал нематическими, другую смектическими. (Почему такие на первый взгляд непонятные названия дал Фридель разновидностям жидких кристаллов, будет понятно несколько ниже.) Он же предложил общий термин для жидких кристаллов «мезо морфная фаза». Этот термин происходит от греческого слова «мезос» (промежуточный), а вводя его, Фридель хотел подчеркнуть, что жидкие кристаллы занимают промежуточное положение между истинными кристаллами и жидкостями как по температуре, так и по своим физическим свойствам. Нематические жидкие кристаллы в классификации Фриделя включали уже упоминавшиеся выше холестерические жидкие кристаллы как подкласс. Когда классификация жидких кристаллов была создана, более остро встал вопрос: почему в природе реализуется жидкокристаллическое состояние? Полным ответом на подобный вопрос принято считать создание микроскопической теории. Но в то время на такую теорию не приходилось и надеяться (кстати, последовательной микроскопической теории ЖК не существует и по сей день), поэтому большим шагом вперед было создание чешским ученым X. Цохером и голландцем С. Озееном феноменологической теории жидких кристаллов, или, как ее принято называть, теории упругости ЖК. В 30-х годах в СССР В. К. Фредерике и В. Н. Цветков первыми изучили необычные электрические свойства жидких кристаллов.Можно условно считать, что рассказанное выше относилось к предыстории жидких кристаллов, ко времени, когда исследования ЖК велись малочисленными коллективами. Современный этап изучения жидких кристаллов, который начался в 60-е годы и придал науке о ЖК сегодняшние формы, методы исследований, широкий размах работ сформировался под непосредственным влиянием успехов в технических приложениях жидких кристаллов, особенно в системах отображения информации. В это время было понято и практически доказано, что в наш век микроэлектроники, характеризующийся внедрением микроминиатюрных электронных устройств, потребляющих ничтожные мощности энергии для устройств индикации информации, т. е. связи прибора с человеком, наиболее подходящими оказываются индикаторы на ЖК. Дело в том, что такие устройства отображения информации на ЖК естественным образом вписываются в энергетику и габариты микроэлектронных схем. Они потребляют ничтожньсг мощности и могут быть выполнены в виде миниатюрных индикаторов или плоских экранов. Все это предопределяет массовое внедрение жидкокристаллических индикаторов в системы отображения информации, свидетелями которого мы являемся » настоящее время. Чтобы осознать этот процесс, достаточно вспомнить о часах или микрокалькуляторах с жидкокристаллическими индикаторами. Но это только начало. На смену традиционным и привычным устройствам идут жидкокристаллические системы отображения информации.jkbk часто бывает, технические потребности не только стимулируют разработку проблем, связанных с практическими приложениями, но и часто заставляют переосмыслить общее отношение к соответствующему разделу науки. Так произошло и с жидкими кристаллами. Сейчас понятно, что это важнейший раздел физики конденсированного состояния.

  • 130. Задача обработки решеток
    Информация

    ЛИТЕРАТУРА

    1. Фок В. А. Дифракция на выпуклом теле. - ЖЭТФ, 1945, т. 15, № 12, с. 693 - 698
    2. Васильев Е. Н. Возбуждение гладкого идеально проводящего тела вращения. - Изв. Вузов СССР. Сер. Радиофизика, 1959, т. 2, № 4, с. 588 - 601.
    3. Андерсеан А. Д. Рассеяние на цилиндрах с произвольным поверхностным импедансом. - ТИИЭР, 1965, т. 53, № 8, с. 1007-1013.
    4. Хенл Х., Мауэ А., Вестпфаль К. Теория дифракции. - М.: Мир, 1964. - 428 с.
    5. Марков Г. Т., Чаплин А. Ф. Возбуждение электромагнитных волн. - М.: Радио и связь, 1983 - 296 с.
    6. Арнольд В. И. Обыкновенные дифференциальные уравнения. - М.: Наука, 1984. - 271 с.
    7. Тихонов А. Н., Самарский А. А. Уравнения математической физики. - М.: Наука, 1972. - 735 с.
    8. Вычислительные методы в электродинамике / Под ред. Р. Миттры. - М.: Мир, 1977. - 485 с.
    9. Панасюк В. В., Саврук М. П., Назарчук З. Т. Метод сингулярных интегральных уравнений в двухмерных задачах дифракции. - Киев: Наукова думка, 1984. - 343 с.
    10. Михлин С. Г. Вариационные методы в математической физике. - М.: Наука, 1970, - 420 с.
    11. Хижняк Н. А. Функция Грина уравнений Максвелла для неоднородных сред. - ЖТФ, 1958, т. 28,№ 7, с. 1592 - 1604.
    12. Кравцов В. В. Интегральные уравнения в задачах дифракции. - В кн.: Вычислительные методы и программирование. - М.: Изд-во МГУ, 1966, вып. У, с. 260 - 293.
    13. Васильев Е. Н., Гореликов А. И., Фалунин А. А. Тензорная функция Грина координатах вращения. - В кн.: Сб. научно-методических статей по прикладной электродинамике. - М.: Высшая школа, 1980, вып. 3, с. 3 - 24.
    14. Белостоцкий В. В., Васильев Е. Н. Интегральное уравнение сферического открытого резонатора с диэлектрическим шаром. - В кн.: Вычислительные методы и программирование. - М.: Высшая школа, 1978, вып. 2, с. 101 - 111
    15. Васильев Е. Н., Серегина А. Р., Седельникова З. В. Дифракция плоской волны на теле вращения, частично покрытом слоем диэлектрика. - Изв. Вузов СССР. Сер. Радиофизика, 1981, т. 24, № 6, с. 753 - 758
    16. Хемминг Р. В. Численные методы. - М.: Наука, 1972. - 400 с.
    17. Васильев Е. Н., Малов В. В., Солохудов В. В. Дифракция поверхностной волны на открытом конце круглого полубесконечного диэлектрического волновода. - Радиотехника и электроника, 1985, т. 30, № 5, с. 925 - 933.
    18. Фокс А., Ли Т. Резонансные типы колебаний в интерферометре квантового генератора. - В кн.: Лазеры. - М.: ИЛ, 1963. - 155 с.
    19. Каценеленбаум Б. 3., Сивов А. Н. Строгая постановка задачи о свободных и вынужденных колебаниях открытого резонатора. - Радиотехника и электроника, 1967, т. 12, 11, с. 1184- 1193.
    20. Вайнштейн Л. А. Открытые резонаторы и открытые волноводы. - М.: Сов. радио, 1966. - 475 с.
    21. Slерiаn В. Ргоbаtе spheroidal wave function, fourier analisis and uncertainly - 1У. Extension to many dimension, generalised prolate spheroidal functions. - Bell System Techn. J., 1964, v. 143, . 11, р. 1042- 1055.
  • 131. ЗАТС типа EWSD Siemens на ГТС
    Дипломная работа
  • 132. Затухание ЭМВ при распространении в средах с конечной проводимостью
    Реферат

     

    1. Семенов А.А. Теория электромагнитных волн.-М.: Изд-во МГУ,1968.
    2. Вайнштейн Л.А. Электромагнитные волны.-М.:Сов.Радио, 1957.
    3. Баскаков С.И. Электродинамика и распространение волн.-М.: Высш.шк., 1992.
    4. Бреховских Л.М. Волны в слоистых средах.-М.: Наука ,1973.
    5. Тамм И.Е. Основы теории электричества.-М.: Наука, 1989.
  • 133. Защита от электромагнитных полей
    Информация

    уменьшение излучения непосредственно у источника (достигается увеличением расстояния между источником направленного действия и рабочим местом, уменьшением мощности излучения генератора); рациональное размещение СВЧ и УВЧ установок (действующие установки мощностью более 10 Вт следует размещать в помещениях с капитальными стенами и перекрытиями, покрытыми радиопоглощающими материалами кирпичом, шлакобетоном, а также материалами, обладающими отражающей способностью -масляными красками и др.); дистанционный контроль и управление передатчиками в экранированном помещении (для визуального наблюдения за передатчиками оборудуются смотровые окна, защищенные металлической сеткой); экранирование источников излучения и рабочих мест (применение отражающих заземленных экранов в виде листа или сетки из металла, обладающего высокой электропроводностью алюминия, меди, латуни, стали); организационные меры (проведение дозиметрического контроля интенсивности электромагнитных излучений не реже одного раза в 6 месяцев; медосмотр не реже одного раза в год; дополнительный отпуск, сокращенный рабочий день, допуск лиц не моложе 18 лет и не имеющих заболеваний центральной нервной системы, сердца, глаз);

  • 134. Защитное заземление
    Информация

    Защитному заземлению подлежат металлические нетоковедущие части оборудования, которые из-за неисправности изоляции могут оказаться под напряжением и к которым возможно прикосновение людей. При этом в помещениях с повышенной опасностью и особо опасных по условиям поражения током, а также в наружных установках заземление является обязательным при номинальном напряжении электроустановки выше 42В переменного и выше 110В постоянного тока, а в помещениях без повышенной опасности при напряжении 380В и выше переменного и 440В и выше постоянного тока. Лишь во взрывоопасных помещениях заземление выполняется независимо от назначения установки.

  • 135. ИДИР. Прибор для измерения количества и длительности импульса на координатных АТС )
    Реферат

    9.Список литературы.

    1. «Интегральные микросхемы» Справочник. Москва, издательство «Радио и связь».
    2. «Справочник радиолюбителя». Киев, издательство «Технiка».
    3. Основы цифровой техники. Л.А.Мальцева Э.М.Фромберг В.С.Ямпольский «Радио и связь» 1986.
    4. Предлагают практики «Измеритель длительности импульсов» Статья С.А.Мюганен.
    5. Конспект по предмету: «Цифровая электроника» Настас.В
    6. Интернет. http://vvk2.mpei.ac.ru/KAT/Dig_Cir/17.html
    7. ОСТ 11073.915-80. Микросхемы интегральные. Классификация и система условных обозначений.
    8. ГОСТ 17467-88 (СТ СЭВ 5761-86). Микросхемы интегральные. Основные размеры.
    9. В.М.Строев, Г.Н.Нурутдинов, Л.В.Лагода. Микросхемы и их применение. Тамбов, 1987 г.
    10. С.В.Якубовский, Л.И.Нельсон. Цифровые и аналоговые микросхемы. -М. Радио и связь, 1989 г.
    11. Б.В.Тарабрин, Л.Ф.Лунин. Интегральные микросхемы. -М. Радио и связь, 1984 г.
    12. И.И.Петровский, А.В.Прибыльский. Логические ИС КР1533б КР1554. ТТО @БИНОМ@, 1993 г
    13. Г.Р.Аванесян, В.П.Левшин. Интегральные микросхемы ТТЛ, ТТЛШ. -М. Машиностроение, 1993 г.
    14. Триполитов, А.В. Ермаков. Микросхемы, диоды, транзисторы. Справочник. - М. Машиностроение, 1994. - 319 с., ил.
    15. Справочник по микроэлектронной импульсной технике .В.Н. Яков лев, В.В. Воскресенский, С.И. Мирошниченко и др. Под ред. В.Н. Мищенко С.В., Муромцев Ю.Л., Цветков Э.И., Чернышов В.Н. Анализ и синтез измерительных систем. - Тамбов. Тамб. гос. техн. ун-т, 1995. - 234 с.
    16. Яковлева. - Киев, Тех. школа, 1983. - 359 с., ил.
    17. Мелен Р., Гарланд Г. Интегральные микросхемы с КМДП структурами. Пер. с англ. - М. Энергия, 1979. - 160с., ил.
    18. Тули М.Справочное пособие по цифровой электронике. Пер. с англ. - М. Энергоатомиздат, 1990. - 176с.
    19. Зотов А.А.., Муромцев Ю.Л. Основы схемотехники радиоэлектронных средств. Учебное пособие Тамбов. Тамб.гос. техн. ун-т. 1995. - 273 с.
  • 136. Избыточные коды
    Информация

    Декодер линейного кода (рис. на следующей стр.) состоит из k- разрядного сдвигающего регистра, (п-k) блоков сумматоров по модулю 2, схемы сравнения, анализатора ошибок и корректора. Регистр служит для запоминания информационных символов принятой кодовой последовательности, из которых в блоках сумматоров формируются проверочные символы. Анализатор ошибок по конкретному виду синдрома, получаемого в результате сравнения формируемых на приемной стороне и принятых проверочных символов, определяет места ошибочных символов. Исправление информационных символов производится в корректоре. Заметим, что в общем случае при декодировании линейного кода с исправлением ошибок в памяти декодера должна храниться таблица соответствий между синдромами и векторами ошибок. С приходом каждой кодовой комбинации декодер должен перебрать всю таблицу. При небольших значениях (п-k) эта операция не вызывает затруднений. Однако для высокоэффективных кодов длиной п, равной нескольким десяткам, разность (п-k) принимает такие значения, что перебор таблицы оказывается практически невозможным. Например, для кода (63, 51), имеющего кодовое расстояние d=5, таблица состоит из 2^12 = 4096 строк.

  • 137. Изготовление лестницы
    Информация
  • 138. Изготовление технологического процесса изготовления лампы накаливания общего назначения типа В 220 -25
    Информация

    В начале работы или после обрыва дрота, стекло захватывают при помощи стального крючка, подтягивают вручную в горизонтальном направлении к тянульно-резальной машине и вводят в тянульные цепи этой машины. Дальнейшее вытягивание совершаются механически с постоянной скоростью. Тянульно-резальную машину устанавливают на расстоянии 30-50 метров от формовочной машины с таким расчётом, чтобы стекло успело застыть. Тянущийся дрот поддерживается конвейером рольгангом, свободно вращающимися гладкими асбоцементными роликами, направляющими пластичное стекло по оси вытягивания. Конвейер состоит из отдельных разъемных звеньев, изменением числа которых, его можно удлинять или укорачивать. Он должен быть тем длиннее, чем больше диаметр вытягиваемого дрота. Направляющие ролики вначале конвейера могут быть опущены или подняты для регулирования угла наклона конвейера и предохранения пластичного стекла от деформаций на начальной стадии вытягивания. Для уменьшения в стекле внутренних напряжений конвейер оснащают подогревными камерами и закрывают на 2/3 длины кожухом. Регулировку диаметра и толщину стенок производят изменением скорости оттягивания стекла тянульной машины, изменением давления воздуха в мундштуке, регулировкой количества стекломассы, стекающей в мундштук в единицу времени. На размеры трубок влияют также угол наклона, скорость вращения мундштука и температура стекломассы в луковице. Тянульно-резальная машина имеет механизм тяги дрота, приводимый в действие электродвигателем. Механизм состоит из двух движущихся с одинаковой скоростью и расположенных одна над другой роликовых цепей, снабжённых металлическими пластинами с асбестовыми или фибровыми накладками. Накладки зажимают охлаждённый дрот и затягивают его в машину. Механизм тяги подводит дрот к механизму резки, который разрезает его пламенем газовой горелки или надрезает увлажнённым абразивным ножом и отламывают крыльчаткой на куски постоянной длины. На электроламповых заводах стеклянные трубки распаковывают и калибруют по толщине стенок и диаметра. Раскалиброванное стекло для штабиков и штенгелей разрезают на отрезки длиной задаваемой конструкции ламп. Стеклорезный станок представляет собой надетый на горизонтальный вал дисковый закалённый и заточенный нож. Вал с ножом вращается в двух подшипниках со скоростью 4000-6000 об/мин. Дроты по 6-12 шт. кладут на нож и легко прокатывают их по режущей кромке против вращения ножа. Лезвие врезается в стекло и наносит на нём тонкие глубокие царапины, по линии царапин стекло даёт трещину. Стеклорезные станки снабжают переставляемым упором, в котором стекло прижимают торцами и которые позволяют разрезать его, с соблюдением точно заданной длины. Механизированное стеклорезальные станки имеют вращающийся загрузочный барабан, автоматически подводящий дроты к лезвию ножа. Такие станки оснащают щелевой газовой горелкой, пламя которой направляют по одной прямой с лезвием ножа. Вращающийся дрот нагревается острым огнём и при лёгком прикосновении к ножу нагревается и отламывается. Штенгели и штабики после резки калибруют по диаметру. На калибровачном автомате они автоматически перемещаются из загрузочного бункера в конусные калибровачные щели вторых пар вращающихся дисков и входят в щели тем глубже, чем меньше их диаметр. Затем упоры, прикреплённые к сторонам дисков, выталкивают их из щелей. Стекло каждого номинального диаметра выталкивается своим упором и скатывается по своему лотку в соответствующий приёмный ящик.

  • 139. Измерение больших линейных геометрических размеров
    Информация

    В данном реферате рассмотрены различные методы измерения больших линейных геометрических размеров и их реализация. Это обусловлено тем, что каждый из методов реализуется при измерениях в своем более узком диапазоне измерений, что связано с нелинейной характеристикой преобразователя и ее линейностью в ограниченном диапазоне длины для измерения уровней; а также удобством, сложностью либо помехозащищенностью для измерений расстояний. Например, измерение уровней: масштабный преобразователь (от 100 мм до нескольких метров), емкостные преобразователи (от 100 мм до 100 м); измерений расстояний: подсчет электронными счетчиками интеграла от «доплеровской частоты» (зависит от разрядности счетчика), радиолокационные (от нескольких километров до нескольких тысяч километров), светолокационные методы (от нескольких километров до 15-20 км), акустическая локация (от сотней метров до нескольких километров). Радиолокаторы применяют в диапазоне от 15-20 км до нескольких тысяч километров, а в диапазоне от нескольких километров до 15-20 км применяют светолокаторы, точность которых в этом диапазоне выше, а габариты и масса существенно меньше, чем у радиолокаторов. На более значительных расстояниях оказывает существенное влияние затухание оптических волн в пространстве, а также зависимость их распространение от времени суток и погоды, что исключается в случае с радиоволнами. Для небольших расстояний время прохождения волны, которое зависит от расстояния пройденного этой волной, мало, что вызывает сложности его измерения, поэтому применяют волны с более низкой скоростью распространения акустические.

  • 140. Измерение влажности зерна
    Информация